技术编号:5913573
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及激光晶体热焦距测量,特别是一种,该方法可选用SOOnm到IlOOnm的探测光源,适用范围广,并具有光路简单易调整、计算方便、结果准确等特点。背景技术激光晶体在吸收泵浦光能量的同时,部分泵浦光能量会转变为晶体的热能,导致激光晶体温度升高,并与冷却系统共同作用,在晶体中形成温度梯度,从而引起晶体的折射率以及热应力的变化,导致晶体热形变,即热透镜效应。晶体热效应会使光束波面和偏振态发生畸变,光束质量下降,因此研究热效应具有重要意义。实践证明,热透镜效应...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。