技术编号:5914173
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种可有效增加电子基板电性探测精度的改进的探针探头设计。 背景技术目前为了降低电子零件的不良率,提升电子产品的可靠性,对于晶圆上的积体电路或电子基板上的线路,都会进行侦测,以保证其良用率。常见对于电子基板的电性探测,是于电子基板的线路上设置相对两电极测试点, 通过探针对预设的测试点进行接触,由其导通的状况,而可侦测其电性参数,如电阻、导通率、电容值或电感值等。然而,随着科技的不断研发,产品是越来越精小,电子基板也随之越形精密而小巧,此时该探针...
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