技术编号：5923599
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种片上系统内嵌逻辑芯核测试调度方法，特别是一种多级排序算 法运用于片上系统内嵌逻辑芯核测试调度的方法。背景技术由于逻辑芯核重用设计方法的使用，集成电路的设计规模和实现功能发生了突 变，由原来超大规模集成电路(VLSI，Very Large Scale Integration Circuit)发展到目前的片上系统。但是，随着片上系统设计规模增大、功能复杂度提高，及设计周期缩短，一 个严峻的问题日益显现，即片上系统的测试已成为阻碍片上系统发展的瓶颈...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。