技术编号：5923608
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光学测量，特别涉及光学条纹位相提取方法。 背景技术利用光学条纹(如干涉条纹、投影条纹)进行光学精密测量是一种应用广泛的技 术。对光学条纹的自动分析是该技术的关键。光学条纹位相提取技术是目前普遍采用的光 学条纹自动分析技术。光学条纹位相提取技术包括傅里叶变换技术、相移技术等。相移技 术需要多个正弦型分布的条纹，一般不适合动态测量，而傅里叶变换技术只需要一个条纹， 特别适合动态测量。在傅里叶变换技术中，并不严格要求光学条纹是正弦分布的，但要求把 一级...
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