技术编号:5924935
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及光学元件的双折射性的测量方法,主要涉及大型元件,例如用于液晶显示器(LCD)的大型板材。背景技术 很多重要的光学材料都表现出双折射性。双折射意味着不同线性偏振的光以不同的速度穿过材料。这些不同的偏振大多数经常被视为偏振光的两个相互垂直的分量。双折射是很多光学材料的固有性质,并且也可能通过施加在材料上的外部作用力引发。延迟(retardation)或者阻滞(retardance)代表着双折射沿着光束通过样品的路径所产生的综合影响。如果入射光是线性偏...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。