技术编号：5925189
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。，已知检测所述缺陷的装置包括用于照明被检测物体的散射光源。在光源对面设置一台或多台照相机，用以收集透过物体的光流。在物体中的任何缺陷使透射光被削弱或偏转。分析这些光的变化，以辨别和检测缺陷。所述装置特别适于显现和检测物体侧壁上的内部缺陷。但是，用所述装置不可能显现和检测微小、透明的表面缺陷。而且，特别是通过文献US 5637864或EP 1118854，已知一种技术，该技术对缺陷进行照射从而进行检测。然而，这种技术不适于检测透明的表面缺陷。本发明提出检测表...
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