技术编号:5925536
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用 新型涉及一种紫外传感增强薄膜变频效率测试装置,适用于光电检测器CCD/CM0S等。背景技术光谱响应范围是光电检测器(XD/CM0S的重要参数。尤其在紫外波段,CXD有着很多重要的应用。目前很多光电检测CCD/CM0S都采用镀制紫外传感增强薄膜(多为荧光材料)的方式对紫外波段进行探测。而对于紫外传感增强薄膜而言,最重要的参数就是变频效率,即紫外传感增强薄膜将紫外光转化成可见光的能力。变频效率是反映荧光粉或荧光粉薄膜发光效率的一个物理量,在对紫外变频方...
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