技术编号：5925810
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及微波遥感及探测，具体涉及一种二维微波辐射成像方法。 背景技术综合孔径辐射计利用多个离散的小天线合成较大的实孔径，采用稀疏阵列排布， 大大减少了天线的质量和体积，解决了分辨率与孔径尺寸之间的固有矛盾。但是这种优势 是以系统结构和信号处理复杂度为代价的，特别是对于大型综合孔径系统如星载综合孔径 辐射计，由于阵元数目过多，系统结构和信号处理将非常复杂，此外庞大的数据量也是一个 不可忽视的重要问题。这些因素都限制了系统性能的进一步提高。发明内容本发明的目...
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