技术编号：5928272
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种具有测试接口的集成电路设备，一种测试具有这种设备的电子系统和包含这种设备的电子装置的方法。集成电路设备被越来越多地配备测试接口，这种测试接口允许设备进入可以应用测试信号的测试状态，并且可以在受控的条件下测量测试结果。例如，一个标准测试接口是IEEE STD 1149.1标准定义的接口。这个标准规定通过集成电路设备的移位寄存器结构应用和收集测试数据。测试输入数据通过移位寄存器结构串行地移入设备，测试结果数据通过移位寄存器结构移出设备。该设备被串...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。