技术编号：5930412
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路设计与测试，特别是指一种JTAG(JointTest Action Group)模块及应用该模块的调试方法。背景技术 测试是集成电路设计与生产过程中最重要的环节之一，一般分为功能测试和结构测试两种。其中，功能测试的目的在于保证所设计的操作系统芯片(SOC)与设计意图相匹配，即验证SOC内的集成电路能否正确地按照技术条件实现预先设计的功能；结构测试的目的在于测试所生产的每一个SOC在结构上是否合格。目前，大部分CPU核都提供JTAG边界扫描...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。