边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置与方法技术资料下载

技术编号:5930975

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本发明涉及边际扫瞄测试界面的,尤其是指一种适用于。背景技术 随着晶片封装及多层印刷电路板技术的复杂化,传统以针床的测试方式已难于和印刷电路板上的节点接触,且由于表面粘着技术的成熟化,使得IC多已直接粘着在电路的表面上,因而造成IC内部讯号直接量测的困难。为解决此一问题,边际扫瞄(Boundary scan)技术便因应而生,例如JTAG(Joint Test Action Group)的boundary scan,其正式标准名称为IEEE1149.1,及IE...
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