技术编号：5931814
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测定装置，该测定装置以规定的测定力使自由摆动的摆动体的测定子与被测定物体接触、以测定由于摆动体摆动而造成的位移。背景技术 过去，已知测定被测定物体的表面粗糙度、波度、轮廓形状、真圆度等表面形状的测定装置，例如，表面粗糙计、轮廓形状测定机、真圆度测定机等。在这些测定装置中，使检测器沿着被测定物的表面扫描以收集扫描数据，根据其结果求出表面性状。该检测器，以可摆动地枢支在前端配有与被测定物表面接触的测定子的臂构件的方式构成。而且，在现有的测定装置中...
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