技术编号:5933536
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种测试装置,尤其是一种轴向半导体器热阻测试接口。背景技术目前,随着产品质量等级的不断提高、与国际接轨的日趋紧密,产品参数的日趋规范,轴向二极管同样要求提供热阻参数;一方面,热阻参数对于指导用户正确使用器件非常重要,另一方面,考核产品可靠性的“稳态工作寿命试验”必须按GJB33A的要求,也就是在规定的额定功率、规定的最高结温老化规定的时间,然后下机测试,器件的参数及参数变化要符合要求,因此也必须要测试出每支器件的热阻才能推算出结温,只有这样“...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。