技术编号：5935868
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及ー种磁通密度及构件损耗测量定位装置，属于电磁测量。背景技术目前，电磁装置结构件杂散损耗测量手段是将被试构件中的损耗从所测得的总损耗中分离，通过基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置实现。在测量过程中，往往需要多次測量，由于放置位置不可能完全一致，会产生测量误差，并且构件定位过程繁琐，所需的时间较长。在构件外部磁通密度测量时，高斯计探头位置定位困难，且重复性差实用新型内容 本实用新型的目的是提供一种磁通密度及构件损耗测量定位装置，解决了构件及高...
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