技术编号:5936284
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于光学工程应用领域,为导引头位标器提供红外圆锥扫描光学系统光学性能测试的功能。背景技术红外圆锥扫描光学系统广泛应用于各种导引头位标器中,为了提高光学系统像质及满足技术要求,就必须对红外光学系统性能进行有效测试和调节。红外位标器光学性能作为红外位标器的重要参数,对其测试方法的研究具有实际意义。由于红外圆锥扫描光学系统工作在高速旋转状态,因此不仅需要对静态下的光学系统性能进行测试,同时需要对动态下的光学系统性能进行测试。对红外位标器进行光学测试时,...
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