反馈扫描隔离和扫描旁路架构的制作方法技术资料下载

技术编号:5940073

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本发明大体上涉及集成电路装置的测试,且更确切地说,涉及集成电路装置中的嵌入式内核和外部电路的反馈和旁路隔离测试。背景技术许多集成电路装置包含至少一个嵌入式内核和将输入提供到嵌入式内核及从嵌入式内核接受输出的外部电路。嵌入式内核通常具有多个输入和输出。有利地能够将嵌入式内核与外部逻辑隔离以用于内核制造测试,及将外部逻辑与嵌入式内核隔离以用于外部逻辑制造测试。扫描隔离反馈测试可用以与外部逻辑分开地测试内核,且扫描隔离旁路测试可用以与内核分开地测试外部电路。然而...
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