技术编号:5940073
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明大体上涉及集成电路装置的测试,且更确切地说,涉及集成电路装置中的嵌入式内核和外部电路的反馈和旁路隔离测试。背景技术许多集成电路装置包含至少一个嵌入式内核和将输入提供到嵌入式内核及从嵌入式内核接受输出的外部电路。嵌入式内核通常具有多个输入和输出。有利地能够将嵌入式内核与外部逻辑隔离以用于内核制造测试,及将外部逻辑与嵌入式内核隔离以用于外部逻辑制造测试。扫描隔离反馈测试可用以与外部逻辑分开地测试内核,且扫描隔离旁路测试可用以与内核分开地测试外部电路。然而...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。