技术编号:5940495
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及生态数据测定技术,特别涉及。背景技术叶面积指数LAI (Leaf Area hdex)是指一块地上作物叶片的总面积与占地面积的比值,是生态系统的一个重要结构参数,用来反映植物叶面数量、冠层结构变化、植物群落生命活力及其环境效应。目前,LAI的检测方法中间接光学模型的测量方法主要研究空隙率,即冠层内太阳辐射未被截取的概率,进而出现一系列基于空隙分析的冠层LAI分析仪器。然而,由于叶子大量重叠,在叶面积指数达5 6倍的时候,单位土地面积上的叶片总面积...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。