技术编号:5941845
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种质谱分析中常见干扰因子一基质效应的修正方法。背景技术基质是指样品中除被分析物以外的一切组分,这些组分能明显降低或增强目标离子的生成速率与离子强度,从而严重影响检测结果的准确性。这种离子抑制或离子增强的效应便称为基质效应。质谱分析中,基质效应的存在非常普遍。以三聚氰胺液质检测法为例,不同产品、 或同类产品不同品牌、甚至同一品牌不同批号的样品基质效应均各不相同。这便导致了即使以空白基质配制标准曲线,亦无法完全消除基质效应的干扰。因此,开发出一种彻...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。