技术编号：5942881
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明的是包括大尺寸光学元件的望远镜类型的光学仪器的光学质量的检验和測量。背景技术光学性能的測量是望远镜在组装后的测试程序的关键点。更确切地说，光学性能的測量必须在震动或热环境下的一定数量的试验之前或之后进行ー组测量，从而检验当仪器经历不同约束条件时 该仪器的光学性能的变化。仪器的光学质量的特征在于波前相位误差，也称为“WFE”，S卩“波前相位误差(Wave-Front Eiror) ”的首字母縮写。WFE考虑了望远镜的反射镜像差，也考虑了组成望远镜的反射...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。