技术编号：5943438
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种利用直接转换探测器在医学或材料检查的CT系统的领域中光子计数地探测X射线辐射的方法，其中，依据现有辐射能量产生与其尽可能成比例的电流脉冲和/或电压脉冲，并且在超过预定的电流门限或电压门限的情况下在探测器中对所产生的电流脉冲和/或电压脉冲进行计数。此外，本发明还涉及一种利用直接转换探测器元件按照前面提到的方法光子计数地探测X射线辐射的探测器系统。背景技术与开头提到的类型类似的方法和探测器是普遍公知的。在此，通过在探测器材料中对通过电离辐射形成的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。