技术编号：5945997
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及三坐标测试仪的测试结构，具体涉及适用于三坐标测试仪的Z轴测试结构。背景技术三坐标测试仪是一种新型 高效的精密测试仪器，其原理是将被测量的零件放入测试仪预设的测试空间里，精密地测量出零件的X、Y、Z三个坐标的数值。其中，Z轴的测试尤其容易受到干扰，导致测试数据出现偏差，市场上还没有一种精确度高并且测试稳定可靠的Z轴测试结构。发明内容为解决现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种结构简单、测试精确度高并且测试结果稳定可靠的适用于三坐标测试仪的Z轴测试...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。