技术编号:5949382
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测试待测器件例如象大规模集成电路(LSI)晶片那样的半导体集成电路的设备和方法,尤其是涉及一种能够同时对很多待测器件执行独立测试的测试设备和测试方法。背景技术 按照惯例,同时对多个待测器件进行独立的测试(例如,日本实用新型申请公开No.64-47148/1989)。图1是日本实用新型申请公开No.64-47148/1989中公开的常规测试设备的框图。该测试设备包括由存储了独自运行的测试程序的微处理器控制的多个测试单元31-33;具有用于监控各...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。