技术编号:5949410
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测量系统,尤其涉及一种材料电磁参数测量系统。背景技术现有的材料电磁参数测量系统是将材料放置于自由空间中,是一种非接触和非破坏性的自由空间测试方法。它利用发射天线将电磁波辐射到自由空间,再利用接收天线接收并测量材料对所发射电磁波的反射和透射信号,最后通过S参数计算介质材料的电磁参数。与其他测量方法相比,自由空间测量方法对测试材料样品没有非常严格的形状和工艺要求,只需要测试材料厚度均匀且具有一定大的测试面积。自由空间测量方法还具有很高的灵活性,可...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。