技术编号:5952882
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体光检测装置,尤其涉及采用光电二极管来测定入射光的量的技术。背景技术图3示出现有的半导体光检测装置的电路图。现有的半导体光检测装置由光检测部和计数器部构成。光检测部具备作为受光元件的第I光电二极管I以及第2光电二极管2 ;第I蓄积单元12以及第2蓄积单元13 ;开关6、7 ;基准电压电路8a ;放大器3、4 ;差分电路5 ;钳 位电容20 ;使钳位电容20的电荷初始化的开关11和基准电压电路8b ;比较器9 ;接收比较器9的输出电压Vcomp...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。