技术编号：5952958
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发 明涉及集成电路测试及测试电路领域，更具体地说，涉及一种扫描测试方法及电路。背景技术随着集成电路的芯片功能的增强和集成规模的不断扩大，尤其是片上系统(S0C，System On a Chip)的出现，芯片的测试变得越来越困难。为了达到一定的测试覆盖率致使测试时间的不断加长，从而导致测试费用往往比设计费用还要高。测试成本已成为产品开发成本的重要组成部分，并且测试时间的长短也直接影响到产品上市时间，进而影响经济效益。解决芯片测试效率的最根本途径是改变测试的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。