技术编号:5954279
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学测量领域,特别涉及。背景技术多层膜系统中的光能分布是了解器件中的光损耗,优化器件中的光传输的重要依据。多层膜系统光能分布研究包括各层膜中的光吸收研究和各界面对光能分布影响研究两个重要方面,是光电中极为重要的研究课题,在太阳能光伏电池、光电探测器和光发射二极管(简称LED)等领域有着极其重要的应用价值。现代光学技术中常采用光谱椭偏仪测量薄膜材料光学常数,采用分光光度计测量多层膜系统的反射率、透射率和吸收率,采用等效界面技术计算多层膜系统的反射、...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。