技术编号：5954955
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种天平，具体涉及一种简易微量天平，属于计量。背景技术在质量计量学中，天平是重要的衡量工具，从计量基准的量传到日常的量值测定，都必须用天平进行衡量，它不仅与人们的日常生活密切相关，也为科学的发展做出了不可磨灭的贡献。直到现在，人们还在不断地对天平进行研究，借助于现代化的手段，提高天平的各种性能，以满足人们科学研究和日常生活的需要。然而，随着科学的发展，社会的进步，人们对质量计量的精度和灵敏度及其方便程度等的要求愈来愈高，与此同时，人们还不得不发展...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。