技术编号:5956821
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光学元件抗激光损伤测试的方法及装置,尤其是涉及一种基于高精度复位技术的损伤阈值测量方法及测量装置。背景技术光学元件在激光加工、激光武器以及高功率激光系统等领域有着广泛的应用,是光学系统中必不可少的基本元件。而随着激光器输出能量的不断提高,光学元件的激光损伤阈值已成为制约强激光技术进一步发展的关键因素,也是限制激光技术向高能量、高功率方向发展的薄弱环节。为了深入分析光学元件的损伤性能和损伤机制,准确评价光学元件的抗激光损伤能力,需要不断地发展和...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。