技术编号:5956857
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光学器件参数测量领域技术,尤其是涉及一种测量光学器件参数的设备。背景技术目前,工作生活中很多设备都会用到发光二极管(LED, Light EmittingDiode)以及滤光片等光学器件,但在实际应用中,有一些光学器件可能由于质量的问题,会导致该光学器件的光学参数不符合使用要求。当光学器件数量较大的时候,特别是在大批生产的过程中,如果不能尽早地发现存在质量问题的器件,就可能会引起很大的损失。因此需要借助一些测量设备能够对光学器件的各种参数进行检验...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。