技术编号：5958358
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种离面位移测量技术，具体来说，涉及。背景技术一直以来，工业领域中的离面位移测量很大一部分采用的是以位移计为代表的传统的接触式测量技术。然而这些测量技术大多是单点式检测，难以得到全场的变形分布，即使采用快速扫描的方法也要面临逐点测量使得检测时间相对较长，很难做到多个检测点状态同步的问题。另外，接触式测量在一定程度上阻碍了样品表面的变形，且易对样品表面造成损伤，使传统的接触式测量技术在越来越多的新材料检测领域不能被接受。结构光投影等非接触式三角测量...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。