一种集成电路机械冲击试验夹具的制作方法技术资料下载

技术编号:5959005

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本发明涉及集成电路测试技术,特别涉及一种集成电路机械冲击试验夹具。背景技术采用加速度试验是考查集成电路内部结构强度、内部引线强度、内部元器件粘接强度、封装强度等的有效手段之一,随着集成电路应用范围的不断扩大,对集成电路的加速度试验越来越高(峰值超过十万g)。目前加速度试验夹具主要有下列两种 I、专利号201020208344,PCB板振动与冲击试验的固定夹具;该专利主要涉及的是PCB板的机械冲击试验固定,如果用于固定微电路进行机械冲击试验,由于其使 用压...
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