技术编号:5959524
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种易挥发主体中的微量杂质的光谱分析法。背景技术 ITO是一种电脑笔记本用屏材料。由In和Sn组成。分析包括In、Sn及其氧化物,最终要分析ITO中的微量杂质。高纯In中需测定As、Sb、Pb、Sn、Fe、Al、Cu、Zn、Cd、Tl,高纯Sn中需测定As、Sb、Fe、Bi、Pb、Cu、Cd、Zn、Al,ITO中测定As、Sb、Pb、Fe、Bi、Cu、Cd、Zn、Al,测定范围0.0005~0.3%。化学分析对ITO有些困难,主要是其中SnO2不...
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