技术编号:5959526
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及。背景技术 现有技术通常采用拉伸方法,根据材料应力-应变关系式Δσ=YΔε,其中Y为杨氏模量,Δσ为应力,Δε为应变,通过测量Δσ和Δε,得出材料的杨氏模量Y。由于这种拉伸方法只能用于测量宏观或宏量样品的杨氏模量,而对于单个线形纳米材料的杨氏模量则需要寻找其他的测量方法。发明内容针对现有技术存在的不足,本发明的目的是提供一种能够测量单个线形纳米材料的杨试模量的方法。为达到上述目的,本发明包括如下步骤①利用测量装置测量待测单个线形纳米材料样品的特征...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。