技术编号:5959531
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测试领域,由其涉及一种基于ICT(In-Circuit-Test)的多链边界扫描测试方法。背景技术边界扫描测试(BST-Boundary Scan Test)技术,也就是JTAG技术,是指通过存在于器件输入输出管脚与内核电路之间的BSC(边界扫描单元)对器件及其外围电路进行测试。利用边界扫描测试技术可以有效地降低单板成本,提高测试质量,缩短产品研发周期。1990年,美国电气与电子工程师学会(IEEE)将JTAG标准经补充和修订以后,命名为IEEE...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。