技术编号:5960800
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片设计,尤其涉及。背景技术集成电路制造技术的发展,带来了越来越小的工艺尺寸的电路,与此同时也带来了更多的和速度相关的故障。这些故障可以是由于工艺的偏差、不纯净的材料以及各种灰尘导致的。对于目前越来越多的高速芯片而言,即使一个很小的延迟故障也会影响芯片的正常工作时钟频率,通常的由测试机提供慢速时钟的测试方法无法覆盖由于高速而带来的故障,由于这些原因,at-speed高速芯片测试对于高速大规模集成电路变得至关重要。 at-speed (全速度)测试...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。