技术编号:5962041
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种半导体三极管生产测试的,特别是一种通过测试半导体三极管的反向击穿参数而判断三极管偏置电阻值的方法。 背景技术带电阻三极管是将一只或两只电阻器与晶体管连接后封装在一起构成的,广泛应用于V⑶、彩电、影碟机、录像机、DVD、显示器等多种视频、通信类数字电子产品上。数字晶体管实际就是带电阻的三极管,有的仅在基极上串联一只电阻,一般称为R1,有的在基极与发射极之间还并联一只电阻R2 (如图I)。电阻Rl有多种电阻,类似标准电阻系列配制,电阻R2情况类似...
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