技术编号：5962861
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测试装置，特别涉及一种用于半导体构装元件的自动化分类测试装置。背景技术 半导体最终的测试制程是在半导体元件构装后，通过一测试设备(TESTER)来测试构装完成的产品的性能，以保证出厂的半导体构装元件在功能上的完整性，并对已测试的产品根据其性能分类筛选，以作为半导体构装元件不同等级的评价依据。然而，随着科技的日新月异，许多半导体芯片的功能愈来愈多样化，运行速度也不断提高。现有测试设备的功能，已逐渐不再能满足该半导体芯片的测试，即使厂商适时推出相...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。