一种检测微处理器抗单粒子事件能力的探测器及方法技术资料下载

技术编号:5964651

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本发明涉及空间探测,特别是。背景技术 单粒子事件是空间单个高能粒子,包括重离子、高能质子、高能电子或中子轰击微电子器件,导致微电子器件逻辑功能翻转或器件损坏的事件,主要有单粒子翻转事件和单粒子锁定事件。单粒子翻转是高能带电粒子在半导体芯片中的电离作用而造成的数据位翻转。单粒子锁定是高能带电粒子引起的电子元器件死锁。随着微电子器件在航天工程中得到越来越广泛的应用,以及微电子器件的集成度越来越高,单粒子事件对航天工程的威胁也越来越大,所带来的后果是严重的。计算...
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