技术编号:5965266
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关于晶圆测试,且特别是有关于一种晶圆测试探针卡。背景技术驱动晶圆(driver IC)的测试主要是验证产品电路是否良好,验证驱动晶圆的功能是否符合终端应用的需求。而驱动晶圆的测试主要是使用专属的测试机(tester)来测试,并且需透过测试配件也就是所谓的探针卡(probe card)配合测试程序来进行驱动晶圆测试。传统测试方式为单颗IC测试,必须透过探针卡与IC接触来测试,而一次只能测试一颗1C,无法有效地发挥测试机的功能,在大量生产时也必须额外...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。