技术编号:5965279
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及到检测,特别涉及用于液晶面板制程中阵列基板的检测方法及检测装置。背景技术阵列基板是液晶面板的重要元件之一,在阵列基板的制程中,需要采用自动光学检测(Automatic Optic Inspection, AOI)系统对阵列基板进行检测。自动光学检测系统是基于光学原理来对阵列基板进行检测,其通过光学扫描装置自动扫描阵列基板,采集图像,检查出阵列基板上缺陷,并通过显示器或自动标志把缺陷显示或标示出来,供维修人员修复。目前常用的检测装置仅具有单一倍率的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。