技术编号:5967080
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统。本发明可以准确地测试出 多通道电控双折液晶的衰减波纹数值,进而判定液晶rubbing mark的工艺水平,能够广泛 适用于要求检测多通道电控双折射液晶的各个领域,尤其是适用于大型企业和科研机构对 多通道电控双折射液晶衰减波纹进行测试,成本低、速度快。背景技术近些年来,多通道电控双折射液晶的出现对科学技术的发展和工业生产技术的革 新影响日趋明显。电控双折射液晶不但可以应用到液晶显示LCD领域,尤其投影放大的大 ...
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