技术编号：5967456
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学探测目标领域，特别是一种能够获得目标空间二维图像信息，目标各点高分辨率光谱信息的探测方法。背景技术成像光谱技术采用辐射成像技术和光谱测量技术相结合方法，能够获得目标的二维空间辐射光强信息和目标各点的光谱信息。其中干涉成像光谱技术是上世纪80年代发展起来的新型探测技术，利用干涉信息与光谱信息之间存在的傅里叶变换关系来计算目标的光谱信息，并且获取目标的二维空间信息。90年代中后期出现的像面干涉成像光谱技术，通过在无限远成像系统中加入横向剪切分束器...
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