技术编号：5974038
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及电子产品的老化测试，具体涉及一种电子产品老化载具及老化测试方法。背景技术老化测试就是为了验证终端产品的性能寿命而对产品进行的一种测试，通常需要设计一系列的可靠性实验项目，最真实的模拟产品在实际使用中的场景，通过实验的结果评估产品的各方面性能。现有技术中，对电子产品的老化测试的老化线主要有以下两种I、纯人工方式，请参考图1，将待老化产品13放入到载具11内，把待老化产品13的输出端子131与载具11内部的输入端子14(例如USB接口)相连接，并...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。