技术编号:5976674
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及到半导体和电子连接件行业,特别涉及到半导体芯片测试装置。背景技术半导体芯片在研发和量产阶段必须经过电气方面的测试,检验芯片是否满足电气性能的要求。芯片测试针架就是用来测量芯片的整个测试系统中不可缺少的一种测试装置,如图I所示,芯片测试针架100主要包括芯片定位板101,探针保持板102和连接芯 片104与测试线路板之间的弹性探针103。探针测试针架100的主要作用是定位测试芯片104和弹性探针103,为了避免弹性探针之间的短路,大多数探针测试...
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