技术编号:5979896
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种测试分立器件三极管芯片正向与饱和压降的装置,属于分立器件芯片制造。背景技术分立器件三极管芯片正向与饱和压降一根直以来都没有一个有效的方式进行准确监控。随着市场对产品质量的要求越来越高,对影响产品质量的关键参数正向与饱和压降进行精确监控就越发显得重要。参见图I和图2,传统的测试分立器件三极管芯片正向与饱和压降的装置包括三 极管芯片1,三极管芯片I正面的基区(B) 2扎设一根基区输入电流探针21与一根基区反馈电压探针22,所述基区输入电流探针...
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