技术编号：5994021
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及到同时测量厚度与折射率的激光干涉测量仪，特别适用两表面都有反射或后向有散射的物体。由于通过干涉仪测量物体的厚度获得的是由光程差决定的光学厚度，所以很有必要寻找一种装置精密测量物理厚度和折射率。美国麻省理工大学的Tearney G.J等人提供了基于光学相干层析成像系统的同时测量物体物理厚度和折射率的装置，(参见在先技术[1]G.Tearney,M.Brezinski,J.Southern,B.Bouma,M.Hee,and J.Fujimoto...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。