技术编号:5999372
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种集成电路元件的测试头及其测试固件,尤其涉及一种在更换待测集成电路的型号时能够减少测试夹具的装卸时间并确认其正确性的测试头及其测试固件。背景技术随着半导体工业的蓬勃发展,集成电路(Integrated Circuit)已广泛应用于国防工业、民用消费电子和航天工业等领域。为确保产品批量生产时的可靠性,集成电路元件必须经过自动测试装置(AutoTest Equipment;ATE)的测试与验证。在IC制造过程中,测试占了相当重要的一环。因为集成...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。