技术编号：5999809
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及采用所谓的散射线内标法的荧光X射线分析方法。背景技术 在过去，在荧光X射线分析方法中，比如，在求出矿物试样中的金属(分析对象元素)的比例时，为了减少基于共存元素的分析对象元素的荧光X射线的吸收的影响，有采用强度比的方法，该强度比为分析对象元素的荧光X射线的强度和一次X射线的特性X射线的康普顿散射线的强度比(参照专利文献1、2)。该方法为，采用作为内标线的一次X射线的特性X射线的康普顿散射线的散射线内标法。在此场合，人们知道，一次X射线的特性 X...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。