技术编号：5999985
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。用于流体分析的系统本发明涉及用于流体分析的系统。EP-A-1000342披露了一种具有干涉仪的检测器设备。光束被分束成沿测量路径引导的测量光束和沿基准部分引导的基准光束。沿测量部分引导拟测流体，由此使流体与通过测量部分传播的 光相互作用。沿测量路径传播的测量光束和沿基准路径传播的基准光束构成发散光束，它们干涉、叠加，并在例如CCD阵列等检测器上形成干涉图案。关于例如流体性质或组分的信息(其对测量路径中的光传播特性有影响)可从检测器检测到的干涉图案中推导出。...
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