技术编号:6001958
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明总体上针对电路的电容测试。特别地,本发明针对用于检测耦合到驱动电路的输出的电路的电容的装置与方法。背景技术对电路的电容测试已经进行很长时间了。测试耦合到驱动电路(例如,IC芯片) 的输出的电路的电容给出了新的挑战。现在,集成电路芯片广泛地用于控制或者驱动多种致动器(例如,微致动器,微机电(MEMS)致动器)。例如,IC用在如照相机的电子装备中, 以控制或驱动电机,所述电机驱动可调节的机械部件(例如,透镜)。耦合到IC芯片的致动器可以看作耦合到该IC芯...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。